摘要
通过单片机应用于露点测试系统中存在的缺陷 ,引入了美国 Cygnal公司新近在国内推出的 C80 51 F0 2 0单片机 ,并对该单片机的功能和特点进行了应用性探讨 ,提出了在露点测试系统中采用 C80 51 F0 2 0单片机的可行性方案 ,通过比较显示
This paper introduces the new MCU C8051F020 produced by Cygnal company through reveled the flaws in the dew point test system The paper analyse the function and characteristics of this MCU and make an application in the dew point test system with the MCU By cooperation the system with MCU C8051F020 is better
出处
《现代电子技术》
2003年第12期65-67,共3页
Modern Electronics Technique