摘要
本文给出一种任意多位的保留进位阵列乘法器的自动设计方法.只要给定乘数和被乘数的位数,就可以自动产生出设计.这样设计出来的乘法器是C可测的.只要七个测试就可检测100%的固定型故障.测试数与乘法器的位数无关.
Abstract:This paper presents an automatic design method for a carry save array multiplier with arbitrary number of bits.The multiplier is C-Testable.Seven test patterns are sufficient to obtain 100% fault coverage,independent of the number of bits of the multiplier.
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
1992年第2期8-12,共5页
Journal of Computer Research and Development
基金
国家自然科学基金
关键词
乘法器
设计
测试
C功能
multiplier
C-testability
iterative logic array
fault coverage
