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用面阵CCD高精度测量微光光场均匀性
被引量:
1
Measuring uniformity of optical field of dim light by using area CCD high accurately
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摘要
利用高分辨率面阵CCD ,提出一种新的测量微光光场均匀性的方法 ,同时对影响系统精度的因素进行了分析 ,并通过计算机处理软件给出矫正补偿措施 ,使面阵CCD高精度测量技术成功地用于实践。
作者
赵熙林
刘炳琦
韩彦中
机构地区
军械工程学院
出处
《中国测试技术》
2003年第2期20-21,共2页
CHINA MEASUREMENT & TESTING TECHNOLOGY
关键词
面阵CCD
光场均匀性
高精度测量
软件矫正补偿
电荷耦合器件
分类号
TU113.2 [建筑科学—建筑理论]
TN386.5 [电子电信—物理电子学]
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