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缩短先进集成电路开发周期的设计纠错和验证

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摘要面临着越来越复杂的器件要求和对成本极端敏感的终端市场的双重压力。

作者 Itzik Goldberger

机构地区科利登子公司Optonics 公司(A Credence Company)

出处《中国集成电路》 2003年第50期62-65,共4页 China lntegrated Circuit

关键词集成电路开发周期测试设计

分类号 TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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中国集成电路

2003年第50期

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