期刊文献+

德摩根一致代数的度量化

Metrization in De Morgan algebra of Uniformity
下载PDF
导出
摘要 我们给出了德摩根一致代数可伪度量化的一个充分必要条件 We give a sufficient and necessary condition for a De morgan algebra of Uniformity to be pseudo-metrizable.
出处 《数学理论与应用》 2003年第2期9-12,共4页 Mathematical Theory and Applications
关键词 德摩根一致代数 伪度量 完备格 逆序对合对应 可数基 Uniformity Countable base Pseudo-metric
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献14

  • 1刘应明,梁基华.Fuzzy拓扑学—层次结构和点式处理[J].数学进展,1994,23(4):304-321. 被引量:17
  • 2史福贵.完全分配格上的点式拟一致结构(英文)[J].数学进展,1997,26(1):22-28. 被引量:5
  • 3彭育威,数学年刊.A,1992年,13卷,3期,353页
  • 4彭育威,四川大学学报,1990年,27卷,3期,275页
  • 5杨乐成,科学通报,1988年,33卷,4期,247页
  • 6赵东升,数学进展,1987年,16卷,3期,305页
  • 7孙叔豪,陕西师范大学学报,1985年,13卷,3期,9页
  • 8王国俊,陕西师范大学学报,1985年,13卷,1期,1页
  • 9王国俊,陕西师范大学学报,1985年,13卷,2期,1页
  • 10梁基华,数学学报,1987年,30卷,6期,733页

共引文献12

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部