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X射线荧光分析在红柱石选矿中的应用

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摘要 X射线荧光分析(XRFA)具有分析速度快、准确度高等特点。本文采用熔融法制样,X射线荧光分析红柱石选矿中的尾矿、中矿和精矿,与化学法相比,该法可使选矿流程的分析时间缩短2/3~4/5,分析结果准确度高,完全满足选矿的要求。
作者 葛正杰
出处 《建材地质》 1989年第3期47-48,共2页
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