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X射线荧光分析在红柱石选矿中的应用
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摘要
X射线荧光分析(XRFA)具有分析速度快、准确度高等特点。本文采用熔融法制样,X射线荧光分析红柱石选矿中的尾矿、中矿和精矿,与化学法相比,该法可使选矿流程的分析时间缩短2/3~4/5,分析结果准确度高,完全满足选矿的要求。
作者
葛正杰
机构地区
国家建材局地质研究所
出处
《建材地质》
1989年第3期47-48,共2页
关键词
X射线
荧光分析
红柱石
选矿
XRFA
分类号
TD973 [矿业工程—选矿]
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建材地质
1989年 第3期
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