用扫描探针显微镜测量材料表面电学和磁学特性被引量：1

下载PDF

导出

摘要扫描探针显微镜是用于测量材料表面不同性质的一类仪器.扫描探针显微镜在测量材料表面电学和磁学特性方面的测量技术发展较快.本文简要介绍了电场力显微镜、磁力显微镜的测量原理,着重对新发展的测量技术的原理及应用进行了描述.

作者王秀凤

机构地区清华大学物理系北京

出处《实验技术与管理》 CAS 2003年第4期13-17,共5页 Experimental Technology and Management

关键词扫描探针显微镜电场力显微镜磁力显微镜测量技术材料

参考文献3

1G. Binnig, C. F. Quate and Ch. Gerber. Atomic Force Microscope [ J ]. Phys. Rev. Lett. 56,930 (1986).
2J. P. Cleveland, etc. Energy dissipation in tapping - mode atomic force microscogy [ J ]. Appi. Phys. Lett( 1998 ) Vol. 72 p2613.
3Roger Proksch, etc. Magnetic dissipation microscopy in anbieat conditions [ J ]. Appl. Phys. Lett(1999)Vol. 74, No3, p419.

1王子仪,张荣君,郑玉祥,张振生,李海涛.AFM扫描参数对样品粗糙度测量的影响[J].实验室研究与探索,2013,32(2):5-7. 被引量：8
2祝向荣,许中平,黎阳,朱志刚,于伟,谢华清.比较教学法应用于原子力显微镜仪器教学的探索[J].上海第二工业大学学报,2016,33(2):164-168. 被引量：2
3胡国文,王光鹏.原子力显微镜减震降噪的升级改造[J].实验室研究与探索,2018,37(4):296-298.
4李英姿,程鹏,王文玲,严琪琪,陈彦,董国波,唐芳,王慕冰,王菁,熊畅,高红,钱建强,李华.基于AFM的物质表面结构及性质表征虚拟实验平台[J].实验技术与管理,2021,38(3):141-145. 被引量：2
5丁喜冬,蔡志岗,赵亮兵.采用自感应探针的原子力显微镜教学仪器[J].物理实验,2022,42(4):29-35. 被引量：1

实验技术与管理

2003年第4期

内容加载中请稍等...