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α粒子在大规模集成电路中引起的软误差及降低软误差的措施 被引量:1

α Particle Brought soft Error in LSI and Measures What to Reduce in
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摘要 阐述了在大规模集成电路中,由α粒子引起的软误差的两种模式:(1)存储单元模式、(2)位线模式,以及减少α粒子产生的软误差的4种措施。 Text introduced two pattern of soft error in LSI, It was brought by a particle: (1)Location pattem, (2) Location line pattern. And the text introduced the four measures what to reduce the soft error by α particle brought.
作者 艾延宝
机构地区 黑龙江科技学院
出处 《鸡西大学学报(综合版)》 2003年第3期57-58,共2页 JOurnal of Jixi University:comprehensive Edition
关键词 大规模集成电路 软误差 Α粒子 存储单元模式 位线模式 误差消除 α particle Molectron Location pattem Location line pattern Measure
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