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X射线光电子能谱(XPS) 被引量:14

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摘要 在对许多材料的研究和应用中,了解其表面特性是很重要的.而要获得材料的表面特性,就需要一些特殊的仪器,对各种材料从成分和结构上进行表面表征.其中,X射线光电子能谱(XPS)由于其对材料表面化学特性的高度识别能力,成为材料表面分析的一种重要技术手段.
作者 俞宏坤
出处 《上海计量测试》 2003年第4期45-47,共3页 Shanghai Measurement and Testing
  • 相关文献

参考文献1

  • 1[5]Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, John F. Moulder,William F. Stickle, Peter E. Sobol, Kenneth D. Bomben, Per-Elmer Corporation

同被引文献142

引证文献14

二级引证文献61

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