2002年IEEE国际可靠性物理年会论文集论文摘要（2）——假同晶GaAs和InGaAs／InAlAs／InP HEMT MMIC的高温加速寿命试验引起的DC和RF退化的演变
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第4期63-63,共1页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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