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红外测厚技术在超薄薄膜和多层共挤薄膜生产线上的应用 被引量:1

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摘要 由于传统的贝它(Beat)技术、伽玛(Gamma)技术和X射线(X-ray)技术,在测量超薄薄膜厚度时技术不完善,更无法测量多层共挤材料中阻隅层的厚度。NDC近红外技术利用不同材料对近纪外光具有不同吸收波长的原理,可测量多层共挤材料每一层的厚度;NDC近红外专利扳术抑制了光学条纹干涉(OFI)的影响,能高精度、高分辨室、无任何放射性地测量超薄薄膜的厚度。
机构地区 NDC红外技术公司
出处 《塑料加工》 2003年第4期31-37,共7页
  • 相关文献

参考文献2

  • 1程江 王广彪.NDC厚度测控系统在塑料加工工业上的应用[A]..全国塑料加工工业信息中心1998年会技术交流材料[C].江西井冈山,1998年6月9-11日..
  • 2710 Film Gauge- Thin Film Gauge for Biax and Cast Film applications. White Paper by NDC Infrared Engineering,Feb. 16,2001.

共引文献1

同被引文献8

引证文献1

二级引证文献6

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