摘要
分析了数字VLSI电路的传统测试手段及其存在问题,通过对比的方法,讨论了内建自测试(BIST)技术及其优点,简介了多芯片组件(MCM)内建自测试的目标、设计和测试方案。
The traditional testing means and their disadvantages are analysed. The advantagesand means of built-in self-test(BIST) are exhaustively discussed. At last, a multi-chip module(MCM)BIST scheme is briefly introduced by comparison.
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第9期29-32,共4页
Semiconductor Technology
基金
江苏省高校自然科学研究基金项目资助(02KJB510005)。