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X-射线荧光光谱法快速测定电解质的BR、CaF_2、MgF_2、KF及Al_2O_3含量
被引量：
4
Fast measuring of BR, CaF2, MgF2, KF and Al2O3 contents in electrolyte by X - ray fluorescent spectrometry
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摘要
本文对采用直接压片X-射线荧光光谱测定电解质分子比及其氧化铝和杂质元素含量的方法进行了探讨与研究,试验结果表明该方法分析结果可靠,可快速分析电解质的成分组成,能满足电解槽的控制需要。
作者
罗湘宁
刘勇
杨韵屏
机构地区
中铝股份广西分公司中心试验室
出处
《轻金属》
CSCD
北大核心
2003年第9期21-24,共4页
Light Metals
关键词
电解质
分子比
化学成份
X-射线荧光
测定
分类号
O657.3 [理学—分析化学]
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