摘要
报道了Sm,Gd通过固 气界面反应对K10H3[Dy(SiW4Mo7O39)2]配合物的稀土多元渗。经ICP,IR测试表明:微量Sm,Gd可渗入到杂多配合物K10H3[Dy(SiW4Mo7O39)2]体相,XPS能谱分析证实了稀土元素的存在并与化合物有键合作用。采用四电极法对扩渗前后试样进行了导电性能的测定,扩渗后试样的导电率提高了0 9356×104倍。
出处
《中国稀土学报》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第4期484-486,共3页
Journal of the Chinese Society of Rare Earths
基金
哈尔滨工业大学校基金资助项目(HIT 2002 54)