期刊文献+

采用基于TI DLP技术的结构光实现高精度3D扫描 被引量:1

下载PDF
导出
摘要 三维(3D)扫描是一种功能强大的工具,可以获取各种用于计量设备、检测设备、探测设备和3D成像设备的体积数据。当设计人员需要进行毫米到微米分辨率的快速高精度扫描时,经常选择基于TI DLP~?技术的结构光系统。3D扫描系统的诞生简单的二维(2D)检测系统已经问世多年了,其工作机制通常是照亮物体并拍照,然后将拍摄图像与已知的标准2D参考件进行比较。
出处 《世界电子元器件》 2018年第8期15-20,共6页 Global Electronics China
  • 相关文献

同被引文献2

引证文献1

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部