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用微量羰基分析法早期预测聚烯烃薄膜的耐候性

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摘要 利用我们所建立的微量羧基分析法,考察了一系列含有光稳定剂的聚烯烃薄膜在户外的暴露效应。结果表明,用这种方法所监测的不同薄模中微量羰基生成的相对速率,与用红外光谱法所得的结果完全一致,但用本方法则观测期可大大缩短,这就为目前迫切需要解决的薄膜配方设计和光稳定剂开发研究中耐候性的评价,提供了一种早期的预测方法。
出处 《塑料工业》 CAS 1982年第2期42-46,共5页 China Plastics Industry
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