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Near-Infrared Femtosecond Laser Induced Defect Formation in High Purity Silica Below the Optical Breakdown Threshold 被引量:1

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出处 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2003年第10期1763-1766,共4页 中国物理快报(英文版)
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参考文献21

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同被引文献1

引证文献1

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