大规模集成电路的可测性技术研究

集成电路测试和设计技术是集成电路的主要核心技术,而可测性设计技术是集成电路测试和设计这两大核心技术的复合技术或边缘技术,本文主要介绍了大规模集成电路的可测性设计技术。