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一种新型微处理器功能验证 被引量：1

Functional Verification of a New Microprocessor
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摘要 文中介绍一种新型微处理器的验证方法,并对相关的一些验证策略进行深入的讨论。 In this paper, a method for functional verification of a new microprocessor is introducd, And make a discussion about related verification strategy.
作者 王涛
机构地区 中国科学院研究生院
出处 《电子测量技术》 2003年第5期47-48,共2页 Electronic Measurement Technology
关键词 微处理器 验证策略 测试向量 覆盖率 verification microprocessor test vector coverage
分类号 TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
  • 相关文献

参考文献2

  • 1Functional verification of multiple-issue,out-of-order,superscalar alpha processor-The DEC Alpha 21214 Microprocessor.Scott Taylor,Michael Quinn,etc.35^th Design Automation Conference.P2-4
  • 2the art of verification FAISAL I. HAQUE , KHIZAR A.KHAN, JONATHAN MICHELIN . p400---406.

同被引文献8

  • 1PIXLEY C,STRADER N,BRUCE W,et al.Commercial design verification:methodology and tools[C]// Proceedings of the IEEE International Test Conference on Test and Design Validity.Washington,DC:IEEE Computer Society,1996:839-848.
  • 2AHARON A,GOODMAN D,LEVINGER M,et al.Test program generation for functional verification of PowerPC processor in IBM[C]// Proceedings of the 2nd ACM/ IEEE Design Automation Conference.San Francisco:ACM Press,1995:279-285.
  • 3KANTROWITZ M,NOACK L M.Functional verification of a multiple-Issue,pipelined,superscalar Alpha processor:the Alpha 21164 CPU chip[J].Digital Technical Journal,1995,37(1):89-99.
  • 4CHANG T-C,IYENGAR V,RUDNICK E M.A biased random instruction generation environment for architectural verification of pipelined processors[J].Journal of Electronic Testing,2000,16(1/2):13-27.
  • 5ROSE J,SWAN S.SCV randomization[EB/OL].[2006-12-26].www.systemc.org.
  • 6LEVHARI Y.Dynamic pseudo-random assembly test generation in CPU verification[EB/OL].[2006-12-26].http://www.verisure.com/papers/cpuver.doc.
  • 7SWEETMAN D.MIPS处理器设计透视:See MIPS Run[M].赵俊良,张福新,陶品,译.北京:北京航空航天大学出版社,2005:363-365.
  • 8LIANG Z S,YAN X L,WANG J B,et al.A dynamic random instruction and stimulus generation for functional verification of embedded processor[C]// Proceedings of 5th International Conference on ASIC,Beijing.[S.l.]:IEEE Press,2003,1:459-462.

引证文献1

电子测量技术
2003年 第5期

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