期刊文献+

怎样避免微电子封装生产车间的静电放电(ESD)现象

下载PDF
导出
摘要 文章介绍了微电子封装产品生产车间静电放电(ESD)现象的产生途径和对封装电子元器件的危害,并简要叙述了为避免生产车间的静电放电(ESD)现象应采取的相关防护措施。
作者 杨建生
出处 《集成电路应用》 2003年第11期73-76,共4页 Application of IC
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部