期刊文献+

电子错位散斑干涉术用于无损检测的探讨 被引量:12

Applications of Electronic Shearing—Speckle Interferometer to Nondestructive Testing
下载PDF
导出
摘要 本文叙述应用电子错位散斑干涉仪于各种缺陷的无损检测的装置原理、各种加载方式的特点.文中详细探讨了缺陷检测定量分析的理论依据,提出了对各种不同材料缺陷检测的限制并进行了实验验证;提出了提高条纹清晰度的方法.从而解决了电子错位散斑干涉术在无损检测实际应用中的各项具体问题. The principle and loading device of electronic shearing speckle interferometer for NDT(nondestructive testing)are described.The theoretical background of quantitative analysis for NDT is studied in detail.Limitations of NDT for different materials are presented and veri- fied experimently.Some methods for improving fringe quality are also proposed.
作者 金观昌
机构地区 清华大学
出处 《实验力学》 CSCD 北大核心 1992年第2期181-187,共7页 Journal of Experimental Mechanics
基金 航天部 国家科学基金资助
关键词 无损检测 电子散斑 错位散斑 nondestructive testing electronic speckle shearing speckle
  • 相关文献

同被引文献48

引证文献12

二级引证文献46

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部