A/D转换器抗横向干扰的研究

本文讨论积分型A/D转换器中两种主要的抗干扰技术,也就是正向始点和负向始点同步两次采样方法(相隔半周期两次采样方法是它的一个特例)及工频电压整形采样方法。研究结果表明,与文献给出的SMRR比较,相隔半周期两次采样方法提高一倍(6dB);工频电压整形采样方法的SMRR随k的增加而增大。利用工频电压整形方法和光电耦合器式的电位隔离措施做成的双积分式A/D转换器其抗干扰性能是令人满意的,微处理机参与处理和计算可使该方法易于实现,且电路结构简单。