计算晶胞参数的微型计算机程序

一、引言随着外界条件（如温度、压力、成分）的变化,晶体的晶胞参数也会相应地发生变化。在金属学中,可用测量晶胞参数的方法,来研究相变过程、晶体缺陷、晶体密度及膨胀系数值。但在这些过程中,晶胞参数的变化往往很小(约10-4数量级),所以需要精确测定。从X射线衍射数据推算晶胞参数,常用图解外推法和最小,二乘法,后种方法可克服图解法中人为的主观误差。