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国产CCD质子辐照的失效机理研究

Failure Mechanism Analysis of Proton Irradiation Test of Domestic CCD
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摘要 针对国产XXX型CCD,开展了10MeV质子辐照损伤试验研究。本文介绍了质子辐照试验方法,分析了CCD在不同状态下质子辐照试验的损伤机理,确定了暗信号幅度为其敏感参数,并对暗信号的退化机理进行了分析。
作者 吴琼瑶 李钦 汪朝敏 李晓潮 刘吉
机构地区 重庆光电技术研究所
出处 《中国检验检测》 2019年第1期16-19,共4页 China Inspection Body & Laboratory
关键词 质子辐照 CCD 失效机理
分类号 TN386.5 [电子电信—物理电子学]
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参考文献2

二级参考文献16

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共引文献15

中国检验检测
2019年 第1期

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