国产CCD质子辐照的失效机理研究
Failure Mechanism Analysis of Proton Irradiation Test of Domestic CCD
摘要
针对国产XXX型CCD,开展了10MeV质子辐照损伤试验研究。本文介绍了质子辐照试验方法,分析了CCD在不同状态下质子辐照试验的损伤机理,确定了暗信号幅度为其敏感参数,并对暗信号的退化机理进行了分析。
出处
《中国检验检测》
2019年第1期16-19,共4页
China Inspection Body & Laboratory
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