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用单纯形法拟合日珥谱线轮廓 被引量:3

APPLICATION OF THE SIMPLEX METHOD TO THE ANALYSIS OF SPECTRAL LINES OF SOLAR PROMINENCES
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摘要 本文提出了不用计算拟合目标函数导数的拟合日珥线光谱的单纯形法.用此方法分析了1984年2月18日太阳边缘环珥的一些对称和不对称谱线,并将分析结果与用最速下降法计算的分析结果作了比较.结果表明,在照相测光的精度下,源函数和线心光源的计算结果误差较多普勒位移和多普勒宽度要大,后者的误差很小.最后,本文还讨论了拟合解的唯一性问题. In this paper, the simplex method for fitting line profiles of solar prominences is proposed. This method does not need to count the derivative of the objective function. As a practical example, some asymmetric and symmetric line profiles of the loop prominence of Feb.18,1984 are fitted by using this method. The results given by this method and by counting the steepest descent are compared. Then it is found that within the precision of photometry, the errors of the optical depth at line centre and of the source function are larger than those of other parameters. The largest error amounts up to 18.2% for the optical depth at line centre. Finally,the question about the uniqueness of the solution which is counted by the simplex method is discussed qualitatively.
出处 《天文学报》 CSCD 北大核心 1992年第2期171-178,共8页 Acta Astronomica Sinica
关键词 太阳 谱线轮廓 谱线拟合 日珥 Sun—Line Profile—Fitting of Profile
  • 相关文献

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引证文献3

二级引证文献2

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