发射光谱仪深度剖面分析的理论机制

The Theory Mechanism of the Emission Spectrum Instrument's Deep Profile Analysis

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摘要本文主要论述了发射光谱仪深度剖面的理论依据和其定量深度剖面分析的理论机制 ,并根据有关理论系统地给出了实现发射光谱仪深度剖面分析的理论模型 ,并指明了理论模型尚待弥补的不足及发展前景。

作者许彪

机构地区萍乡高等专科学校

出处《萍乡高等专科学校学报》 2003年第4期36-38,41,共4页 Journal of Pingxiang College

关键词发射光谱仪深度剖面分析 DPA 光谱强度

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萍乡高等专科学校学报

2003年第4期

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