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X射线荧光光谱法测定锰矿中TMn、TFe、SiO_2和P含量
被引量：
1
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摘要
介绍了X射线荧光光谱法(XRF)测定锰矿中TMn、TFe、Si O2和P含量的仪器与材料、试验方法,并对方法的精密度、准确度进行了分析。
作者
程坚
机构地区
南京钢铁股份有限公司技术质量部
出处
《现代冶金》
CAS
2012年第5期28-29,共2页
Modern Metallurgy
关键词
X射线荧光
锰矿
全锰
全铁
二氧化硅
磷
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
P575.4 [天文地球—矿物学]
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