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CMOS时序电路中SOP故障的测试

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作者 黄维康 赖建林
出处 《微电子测试》 1992年第3期25-29,共5页
关键词 时序电路 测试 CMOS SOP故障
分类号 TN791.07 [电子电信—电路与系统]
  • 相关文献
微电子测试
1992年 第3期

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