摘要
岩石土壤中痕量钴的分析,用发射光谱法进行直接测定是个较为简捷、可靠的方法.但常规的测定法和ICP光电直读法测定下限都在1ppm以上,直接粉末进样的ICP法检出限较低,也只能达到0.1ppm.本方法利用AgCl作热化学反应剂,在室电极中与钴形成易挥发的氯化钴,极大地提高了钴的蒸发速度,从而降低了检出限.可以直接测定岩石土壤中0.05ppm的钴.浓度为ppm级时,测定的相对标准偏差一般不超过11%.
出处
《冶金分析》
CAS
1985年第3期10-13,共4页
Metallurgical Analysis
