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光束扫描法测量微位移和微负荷装置
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1
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摘要
采用光束扫描法可灵敏地测量间隙大小和试件尺寸。本文介绍实施中的一些问题,以及配上单板机制成灵敏度高、稳定性好的微位移和微负荷测量装置。该方法对发光元件和光敏元件的性能要求不高,具有广泛的应用前景。
作者
陶宝祺
王妮
郑瑞梓
陈杰
机构地区
南京航空学院
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
1988年第2期195-202,共8页
Chinese Journal of Scientific Instrument
关键词
扫描法
微位移
光敏元件
间隙大小
试件尺寸
单板机
检测电路
函数记录仪
闸门电路
旋转轴线
分类号
TP2 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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仪器仪表学报
1988年 第2期
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