摘要
本文采用谱线绝对强度法测量等离子体射流的温度场。在LTE 的条件下,频率为v 的光谱线的发射系数与温度的关系为ε_v=hv/4π·N(T)/Z(T)·Agexp(-(E)/(kT))(1对确定的光谱线,式中跃迁几率A,统计权重g 和激发位能E 都是常数。配分函数Z(T)和数密度N(T)可计算求出,因此,只要求得发射系数分布,即可按式(1)计算出温度分布。对于柱对称的问题。
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
1988年第2期210-214,共5页
Chinese Journal of Scientific Instrument