期刊文献+

掺杂卤素对非晶态As_2Se_3中隙态的影响

Effects of Halogen Doped on the Gap States of Amorphous As_2Se_3
下载PDF
导出
摘要 本文研究的卤素掺杂非晶态 As_2Se_3中电子能级结构、发现材料的费米能级 E_F、深陷阱密度 N_P 以及ημτ输运参数值强烈地依赖于卤素的电负性,从中展示了在隙态中卤素浅能级的相对位置。 In this paper,energy level in halogen doped amorphous As_2Se_3 Was investigated.The change of E_F,Np and ημγ strongly depended on the electronegativity of varioushalogens.These results reveated the halogen defect level position in gap states ofamorphous As_2Se_3.
出处 《无机材料学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第2期210-213,共4页 Journal of Inorganic Materials
关键词 半导体 掺杂 非晶态 Non-crystalline Chalcogenide semiconductors Dopant
  • 相关文献

参考文献2

  • 1张干城,无机材料学报,1987年,2卷,4期,343页
  • 2范志岳,1987年

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部