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192Ir源透照厚度适用范围的讨论

A DISCUSSION ON APPLICABLE PENETRATING THICKNESS OF 192Ir SOURCE
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摘要 本文根据射线检测的基本原理,采取与 X 射线比较的方法,通过大量试验讨论192Ir 源适用的厚度范围。1 理论分析射线照相时,射线能量的选择受透照厚度的限制,因为射线能量直接影响吸收系数μ和散射比 n,影响底片的对比度。有效能量和吸收系数的关系如图1示,能量提高,吸收系数减小。
出处 《无损检测》 北大核心 1992年第10期286-287,291,共3页 Nondestructive Testing
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