与衬底有关的外表氧化失效分布的建模
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2003年第6期68-68,共1页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
-
1薄兰邵.两种失效分布的比较[J].微电子学与计算机,1992,9(6):12-15.
-
2薄兰邰.失效分布的选择[J].微电子学与计算机,1989,6(8):27-29.
-
3胡瑛,梅盖华,周毅,赵启鹏.声表面波滤波器寿命分布研究[J].压电与声光,2013,35(3):312-314. 被引量:2
-
4黄正.表面安装焊接的可靠性设计[J].电子产品可靠性与环境试验,1999(4):31-37. 被引量:2
-
5陈盘训,谢泽元.双极晶体管总剂量辐射失效概率[J].中国核科技报告,2002(1):34-40. 被引量:1
-
6可靠性工程与环境工程[J].电子科技文摘,2000(12):3-3.
-
7郑石平.电子元器件失效分析技术的工程应用[J].现代雷达,2006,28(11):87-89. 被引量:5
-
8何江红,贺德洪,桂力敏.塑封器件可靠性快速评估的研究[J].微电子学与计算机,1996,13(2):6-10. 被引量:1
-
9胡恒升,张敏,林立谨.TDDB击穿特性评估薄介质层质量[J].电子学报,2000,28(5):80-83. 被引量:8
-
10王宁.单元有效度Bayes、Fiducial和Frequency限的讨论[J].航天控制,1989,7(2):27-32.
;