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武汉市恒立晶片电子厂

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出处《电测与仪表》北大核心 2004年第1期65-65,共1页 Electrical Measurement & Instrumentation

分类号 TH [机械工程]

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1遏制电子产品流失的源头——金属探测门于电子厂的应用[J].A&S（安防工程商）,2005(1):104-105.
2深圳UL检验中心[J].机电新产品导报,1995(1):68-80.
3广州UL检验中心[J].机电新产品导报,1995(1):53-67.
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电测与仪表

2004年第1期

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