电磁辐射对航空电子设备有害

由于航空电子设备集成电路体积不断减小,电磁辐射就更容易使它们受到损坏,即使是在地面的电子设备,也因小型化、电路密集化而导致抗辐射性能下降。 个别事件效应 NASA把航天系统工程师所熟知的辐射现象称为个别事件效应(Single event effects,简称SEE)。在过去的十来年中,个别事件效应是导弹和卫星研制中遇到的一个难题,其中记忆芯片是最易出错和受损的一种器件。