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可编程器件的测试技术研究 被引量:2

Test Technology Research of Programmable Logic Device
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摘要 本文主要介绍了如何在测试系统中实现对可编程器件的编程技术 ,如何利用测试仿真技术实现测试数据共享问题 ,以及对可编程逻辑器件中E2 CMOS单元的测试。 This paper mainly introduces how to realize the program technology for PLD in test system,how to utilize test emulation technology to share test data,and the test of E 2CMOS unit of PLD.
出处 《计算机与数字工程》 2004年第1期50-52,共3页 Computer & Digital Engineering
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