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助力药物杂质分析 赛默飞推出离子阱多级液质解决方案

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摘要 2015年2月27日,上海——赛默飞世尔科技近日推出"离子阱多级液质药物杂质分析解决方案"。助力药物杂质分析,提供从数据采集到数据处理的完整工作流程,帮助客户开展快速、智能和深入的杂质研究工作。药物杂质因其可能对药品质量、安全性和有效性产生影响,目前成为国内外药品监管机构的重点关注内容之一。随着我国医药产品出口规模的扩大。
出处 《中国仪器仪表》 2015年第2期14-,共1页 China Instrumentation
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