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纳米材料的透射电镜表征 被引量:27

The Characterization of Nano-materials by Transmission Electron Microscope
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摘要 用金属包埋技术可以从纳米材料中切取纳米尺度的薄膜 。 Transmission Electron Microscope is an important instrument used to research the microstructure of nano materials. A nano scaled film can be cut from nano materials by the technology of metal encapsulation. The inner morphology and microstructure of nano materials are researched by TEM or HREM.
出处 《现代科学仪器》 2003年第2期15-17,共3页 Modern Scientific Instruments
关键词 纳米材料 透射电镜 表征 nano materials TEM characterization
  • 相关文献

参考文献3

  • 1方克明,胡晓军,邹兴,陈锡花.纳米碳纤维微观结构的高分辨电镜研究[J].北京科技大学学报,2001,23(6):530-531. 被引量:4
  • 2方克明 邹兴 许燕.沸石分子筛中半导体纳米团簇的制备[J].过程工程学报,2002,:522-522.
  • 3方克明 林海 邹兴.铝硅酸矿物表面改性制备钛白代用品的研究[J].中国稀土学报,2001,20:257-257.

二级参考文献4

  • 1范月英 刘敏 等.第四届全国新型碳材料学术研讨会议论文集[M].,.582.
  • 2计道君.纳米材料和技术应用进展.全国第2届纳米材料和技术应用会议论文集[M].杭州,2001.B45.
  • 3计道君,全国第2届纳米材料和技术应用会议论文集,2001年,B45页
  • 4范月英,第四届全国新型碳材料学术研讨会议论文集,582页

共引文献3

同被引文献339

引证文献27

二级引证文献115

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