期刊文献+

嵌入型量测设备及封闭式控制回路在提升研磨制程能力的应用 被引量:1

Enhancing the Polishing Process by Using in-Line Metrology with Closed Loop Control
下载PDF
导出
摘要 诺威量测为第一家首先提出嵌入式量测解决方案的公司,凭借其在嵌入式量测及先进制程控制所取得的经验,提供在化学机械研磨制程上降低生产成本且可提高产品质量的测量系统。探讨嵌入型量测的观念及原理,封闭式回路控制在芯片生产上已被应用多年。
出处 《电子工业专用设备》 2004年第3期27-28,48,共3页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
  • 相关文献

同被引文献3

引证文献1

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部