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嵌入型量测设备及封闭式控制回路在提升研磨制程能力的应用
被引量:
1
Enhancing the Polishing Process by Using in-Line Metrology with Closed Loop Control
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摘要
诺威量测为第一家首先提出嵌入式量测解决方案的公司,凭借其在嵌入式量测及先进制程控制所取得的经验,提供在化学机械研磨制程上降低生产成本且可提高产品质量的测量系统。探讨嵌入型量测的观念及原理,封闭式回路控制在芯片生产上已被应用多年。
作者
Dr.Giora Dishon
AvronGer
机构地区
Nova Measuring Instruments Ltd.
出处
《电子工业专用设备》
2004年第3期27-28,48,共3页
Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词
化学式机械研磨
封闭式控制回路
嵌入式制程控制
自动化制程控制
嵌入式厚度监测
分类号
TN605 [电子电信—电路与系统]
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电子工业专用设备
2004年 第3期
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