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用转矩仪测量薄膜磁性参数的方法

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作者俞祥游沈德芳

出处《科技通讯（上海船厂）》 1989年第3期24-28,共5页

关键词磁性参数转矩仪测量法薄膜

分类号 TN304.055 [电子电信—物理电子学]

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科技通讯（上海船厂）

1989年第3期

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