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第八届国际二次离子质谱学会议概论 被引量:1

A BRIEF REVIEW OF 8th INTERNATIONAL CONFERENCE ON SECONDARY ION MASS SPCTROMETRY
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摘要 应国际组织委员会和科学委员会主席Benninghoven教授的邀请,作者在1991年8月20日到9月27日间参加了在前荷兰Amsterdam市举行的第八届国际二次离子质谱学会议(SIMS—Ⅷ),并访问了德国Münster大学物理研究所和Leybold公司在K(?)in。
作者 查良镇
机构地区 清华大学
出处 《真空科学与技术》 CSCD 1992年第1期61-66,共6页 Vacuum Science and Technology
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引证文献1

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