摘要
简要叙述了IBM公司的倒装片技术,包括凸点形成技术、压焊技术和下填充技术,并展望了倒装片技术的发展前景。
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期35-37,共3页
Semiconductor Technology
同被引文献21
-
1袁祥辉,吕果林,黄友恕,李兵.红外焦平面CMOS单元读出电路[J].半导体光电,1999,20(2):123-126. 被引量:23
-
2芮延年,刘开强,张志伟,陈慧萍.Flip-chip芯片关键技术的研究[J].苏州大学学报(工科版),2004,24(5):19-22. 被引量:2
-
3鲜飞.微电子封装技术的发展趋势[J].半导体行业,2005(2):56-59. 被引量:3
-
4罗驰,练东.电镀技术在凸点制备工艺中的应用[J].微电子学,2006,36(4):467-472. 被引量:12
-
5Michael Quirk, Julian Serda. Semiconductor Manu- facturing Technology [M].韩郑生,等.北京:电子工业出版社,2004,1版,210-233.
-
6M B Reine, A Hairston, P Lamarre, et al. Solar-blind AlGaN 256×256 p-i-n detectors and focal plane arrays [C]. Proc. of SPIE, 6119: 611901-1-1611901- 15.
-
7Ryan McClintock, Alireza Yasan, Kathryn Mayes, et al. Back-illuminated solar-blind photodetectors for imaging applications [C]. Proc. of SPIE, 5732: 175-184.
-
8Paul Schreiber, Tuoc Danga, Thad Pickenpaugha, et al. Solar Blind UV Region and UV Detector Development Objectives [C]. SPIE, 3629: 230-248.
-
9Mary J Hewitt, John L Vampola, Steve H Black, et al. Infrared readout electronics: a historical perspective [C]. SPIE, 2226: 108-119.
-
10BEASLEY D B,BENDER M,CROSBY J,et al.Advancements in the micromirror array projectortechnology II[C]//Proceedings of SPIE.Orlando,FL,USA,2005,5785:68-79.
-
1文继刚.倒装芯片技术分析[J].科技传播,2010,2(16):169-170. 被引量:5
-
2范继长,刘玲.MCM中的倒装芯片互连技术[J].混合微电子技术,1996,7(1):25-28.
-
3裸芯片技术主要形式[J].集成电路应用,2002(4):35-35.
-
4欣然.凸点工艺开发动态[J].电子与封装,2004,4(2):63-63.
-
5藤野纯司,松川.使用焊膏的CSP·BGA球凸点[J].微电子技术,1996,24(5):75-78.
-
6任春岭,鲁凯,丁荣峥.倒装焊技术及应用[J].电子与封装,2009,9(3):15-20. 被引量:20
-
7王德贵.电路组装技术的重大变革[J].电子电路与贴装,2005(1):44-48.
-
8郭晖,郭大琪.多金球凸点倒装片技术[J].电子与封装,2007,7(6):18-20.
-
9郭大琪.喷射下填充——一种新的下填充技术[J].电子与封装,2004,4(1):24-27.
-
10王洋,丁荣峥.倒装片下填充技术综述[J].集成电路应用,2002(4):27-29.