正交线偏振激光器原理与应用(Ⅲ)——精密测量应用原理及技术基础研究

综述了利用正交线偏振激光器内特性进行精密测量的研究成果,包括:①纳米激光器测尺(基于频率分裂的激光器两偏振光竞争位移传感激光器)测量原理,②基于频率分裂激光器两偏振光回馈的位移测量原理,③直接利用波片形成频率分裂的波片位相延迟测量原理,④基于频率分裂对腔内双折射强弱敏感性的位移测量原理,角度测量原理,振动测量原理,⑤压强测量原理,⑥磁场测量原理等,所涉及现象包括:激光纵模问隔内新频率的产生,两频率之差的改变、光束的偏振特性的改变,模的竞争强度的改变等.这些新应用的原理、结构简单,可溯源到光的波长。如,激光器自身就是传感器的纳米激光器测尺已在应用中,测量范围12 mm、分辨率79 nm、线性度小于5×10^(-5),波片位相延迟测量系统重复性达到0.3′。