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国内第一条KGD可靠性保障试验、生产线在信息产业部电子五所建成
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摘要
信息产业部电子第五研究所通过对国外技术的引进、消化和提升,在国内建立了第一条裸芯片测试、老化筛选和评价的KGD(Known Good Die)可靠性保障试验和生产线。
机构地区
赛宝可靠性分析中心
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2004年第2期69-69,共1页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词
裸芯片
KGD
可靠性保障
生产线
信息产业部电子五所
分类号
TN406 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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