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挑战现有测试技术的SoC器件被引量：1

SoC Challenge of Present Testing Method

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摘要随着先进的集成电路(integrated circuit简称IC)设计思路和高密度工艺技术的实现,半导体制造厂商能够创建出系统级芯片(system-on-chip简称SOC)器件,在该器件内不同种类的数字和模拟电路核心被集成在非常微小的尺寸上面,发挥着各自的功能.

作者胡志勇

机构地区华东计算技术研究所

出处《世界电子元器件》 2004年第3期75-77,共3页 Global Electronics China

关键词测试技术 SoC器件集成电路系统级芯片生产测试

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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世界电子元器件

2004年第3期

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