摘要
用X-射线衍射法测定的TiAl金属间化合物室温下的德拜温度θ_D为515 K,此值远大于纯铝及纯钛的相应温度值(394及380 K).它预示TiAl金属间化合物成键时的Ti-Ti键及Ti-Al键均有所加强,且与其价电子结构的计算结果相符.此外,还讨论了TiAl德拜温度与其价电子结构及脆韧转变温度的关系.
出处
《中国有色金属学报》
EI
CAS
CSCD
1992年第2期44-46,共3页
The Chinese Journal of Nonferrous Metals
基金
国家高技术基金
