科利登展示降低测试成本和加快产品量产时间的解决方案——SEMICON中国2004展会
出处
《集成电路应用》
2004年第4期83-84,共2页
Application of IC
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1科利登系统公司2004年第二季度财务报告[J].电子工业专用设备,2004,33(6):40-40.
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2科利登系统公司2004年第二季度财务报告[J].半导体技术,2004,29(7):96-96.
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3科利登完成对恩浦国际的收购[J].电子测试（新电子）,2004(7):106-106.
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4科利登完成对恩浦国际（NPTest）的收购[J].半导体技术,2004,29(7):98-98.
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5陆彦.整合优势资源 突破技术创新——访科利登系统公司总裁兼首席执行官DavidA.Ranhoff[J].电子工业专用设备,2005,34(8):78-78.
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6全新的科利登:提供先进技术降低测试成本[J].半导体技术,2004,29(8):82-82.
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7科利登完成对恩浦国际（NPTest）的收购[J].电子工业专用设备,2004,33(6):49-50.
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8科利登系统公司（Credence System）将并购恩普公司（NPTest）[J].电子产品世界,2004,11(03B):8-8.
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9十三五：你的机会在哪里[J].浙商,2016,0(2):14-15.
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10SteveJennings,许伟达.SoC设计到生产的测试流程可以减少测试成本与量产时间[J].中国集成电路,2002,0(12):48-50. 被引量：1
