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迎接SoC时代测试平台的挑战,做SoC测试设备的NO.1——访泰瑞达公司董事长兼首席执行官GEORGE W.CHAMILLARD

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摘要 在SEMICON中国2004年展会上,本刊通讯员有幸采访到了泰瑞达全球董事长兼首席执行官GEORGE W.CHAMTLLARD先生。
作者 丁力
出处 《集成电路应用》 2004年第4期33-34,共2页 Application of IC
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