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VLSI电路可测性设计技术及其应用综述 被引量：26

The technologies and applications of DFT for VLSI
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摘要 综述了超大规模集成电路的几种主要的可测试性设计技术,如扫描路径法、内建自测试法和边界扫描法等,并分析比较了这几种设计技术各自的特点及其应用方法和策略。 Not only the scan route solution, the built-in self-test solution and the boundary scansolution of design for testability are summarized, but also the applications and countermeasures ofthese 3 solutions are analysed and compared in details.
作者 成立 王振宇 高平 祝俊
机构地区 江苏大学电气与信息工程学院
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第5期20-24,34,共6页 Semiconductor Technology
基金 江苏省高校自然科学研究基金(02KJB510005)
关键词 VLSI 可测性设计 内建自测试 自动测试设备 超大规模集成电路 扫描路径法 VLSI DFT BIST ATE application prospect
分类号 TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 相关文献

参考文献12

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共引文献31

同被引文献137

引证文献26

二级引证文献31

半导体技术
2004年 第5期

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